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  2. 表面分析技術選書の電子書籍一覧

“表面分析技術選書”の電子書籍一覧

“表面分析技術選書”に関連する電子書籍を4件掲載しています。14 件目をご紹介します。

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走査プローブ顕微鏡/分光法 第2版(表面分析技術選書)

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走査プローブ顕微鏡/分光法 第2版

  • 公益社団法人 日本表面真空学会 編
  • 税込価格:4,180
  • 出版社:丸善出版
  • 販売開始日:2025/10/31
  • 走査プローブ顕微鏡(SPM)は、nmレベルに細く尖らせた探針(プローブ)を試料表面に沿って走査させ、試料表面からしみ出す物理量を計測することで、その形状や性質を観察する手法である。近年、SPM技術の進展によりさまざまな走査プローブ分光法(SPS)が開発され、単原子レベルで物理的化学的特性を定量評価する科学分野が生まれてきている。こうした最新のSPM技術の全体像を、豊富な具体例を交えつつ体系的に整理...

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走査電子顕微鏡 第2版(表面分析技術選書)

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走査電子顕微鏡 第2版

  • 公益社団法人 日本表面真空学会 編
  • 税込価格:4,180
  • 出版社:丸善出版
  • 販売開始日:2026/01/22
  • 走査電子顕微鏡(SEM)は、電子線で試料表面を走査することで、試料表面形状だけではなく、試料の元素組成や結晶方位、化学結合状態など、さまざまな情報を得られる手法であり、多様な試料の観察・分析に広く用いられている。本書はSEMの基礎的・理論的な解説から、多様な試料の種類ごとに試料の調整法や観察手法を実例とともに解説。さらに発展的なデータの機械学習による解析や自動化についても扱う。SEMの初心者からさ...

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X線光電子分光法 第2版(表面分析技術選書)

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X線光電子分光法 第2版

  • 公益社団法人 日本表面真空学会 編
  • 税込価格:4,180
  • 出版社:丸善出版
  • 販売開始日:2025/12/15
  • 試料表面の組成・構造や電子物性に関する多彩な情報を引き出すことができるX線光電子分光法(XPS)は、表面分析の代表的な実験手法の一つである。本書では、XPSについての基礎的・理論的な解説から、試料調製法やデータ解析の仕方といった実践的な内容を丁寧に解説。また、放射光施設を利用した応用的な測定・解析例も多数紹介した。XPSを利用し始めた学生・実務者はもちろん、さらに発展的な利用を検討している熟練者に...

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二次イオン質量分析法 第2版(表面分析技術選書)

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二次イオン質量分析法 第2版

  • 公益社団法人 日本表面真空学会 編
  • 税込価格:4,400
  • 出版社:丸善出版
  • 販売開始日:2025/06/02
  • 二次イオン質量分析法(SIMS)は、試料表面にイオンビームを照射し、飛び出した二次イオンの質量を検出して物質を同定し、さらに各物質の試料中での分布をイメージングする手法である。金属や半導体から高分子材料、 生体試料にも適用できる分析法として、多くの研究分野で活用されている。25年ぶりの大改訂となる本書では、重要性の高い基礎的な内容だけでなく、目的別の応用例を大幅に拡充。これからSIMSを使い始める...
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