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はじめてのデバイス評価技術
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  • カテゴリ:一般
  • 発行年月:2000.1
  • 出版社: 工業調査会
  • サイズ:21cm/242p
  • 利用対象:一般
  • ISBN:4-7693-1179-6
  • 国内送料無料

紙の本

はじめてのデバイス評価技術 (ビギナーズブックス)

著者 二川 清 (著)

半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。【「TRC MARC」の商品解説】

はじめてのデバイス評価技術 (ビギナーズブックス)

2,160(税込)

ポイント :20pt

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評価内訳

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LSIメーカーのビジネスの根幹にかかわるデバイス評価技術を写真付きでわかりやすく説明

2000/07/17 09:15

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投稿者:ブックレビュー社 - この投稿者のレビュー一覧を見る

 LSIメーカーはいま,0.18μm以降のシステムLSIに関して,きわめて大きな課題に直面している。チップの誤動作や性能不足,信頼性低下といった不具合が試作後,または市場投入後に生じ,これを避けようとすると設計期間が圧倒的に長くなって納期に間に合わなくなることである。これを引き起こす大きな原因に,エレクトロマイグレーションやストレスマイグレーションといった問題がある。こうした問題を回避するためには,きちんとしたデバイス評価技術を構築することが必要になる。
 著者は,この「評価」を「機能の評価」「信頼性の評価」「故障の評価」に大別する。このそれぞれについて,初めてその技術を学ぶ人に向けて平易に説明している。わかりやすさを実現するために,数式を可能な限り使わないことや,写真を多用することでイメージをつかみやすくした。本書は,ベースになる技術が広範囲にわたるためにとかく全体像を理解しづらいといわれるデバイス評価技術の全ぼうを示している。
(C) ブックレビュー社 2000

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