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目次

基礎精密測定 第3版

基礎精密測定 第3版

  • 津村 喜代治(著)
  • 1章 測定の基礎
    • 1.1 はじめに
    • 1.2 測定,検査,計測
    • 1.3 長さの基準
    • 1.4 トレーサビリティ
  • 2章 精密測定と誤差
    • 2.1 はじめに
    • 2.2 誤差に関する用語の定義
    • 2.3 誤差の原因
    • 2.4 誤差の法則
    • 2.5 偶然誤差の取扱い(測定値の統計的処理)
    • 2.6 不確かさ
  • 3章 測定誤差
    • 3.1 系統誤差の概念
    • 3.2 測定機器,基準器の器差とその補正
    • 3.3 温度による系統誤差の補正
    • 3.4 温度差の生ずる原因とその解析
  • 4章 弾性変形と測定精度
    • 4.1 はじめに
    • 4.2 フックの法則による変形
    • 4.3 ヘルツの弾性接近量
    • 4.4 被測定物の支持法による変形
  • 5章 測定機器と測定精度
    • 5.1 はじめに
    • 5.2 測定子,測定テーブルの形状精度の影響
  • 6章 目盛尺
    • 6.1 目盛に関する用語とその定義
    • 6.2 金属製直尺
    • 6.3 標準尺
  • 7章 標準ゲージ
    • 7.1 標準ゲージ
    • 7.2 ブロックゲージ
    • 7.3 基準棒ゲージ
    • 7.4 基準プラグゲージ
  • 8章 限界プレーンゲージ
    • 8.1 はじめに
    • 8.2 限界ゲージの種類
    • 8.3 限界ゲージの製作公差
    • 8.4 製品公差とケージ公差との比率
    • 8.5 限界ゲージの使用上の注意事項
  • 9章 機械式測定機器
    • 9.1 バーニヤ目盛を利用した拡大機構
    • 9.2 ねじを利用した拡大機構
    • 9.3 テコを利用した拡大機構
    • 9.4 テコ・歯車式拡大機構
    • 9.5 弾性変形を利用した拡大機構
    • 9.6 歯車を利用した拡大機構
  • 10章 電気式測定機器
    • 10.1 はじめに
    • 10.2 変位量を電気量に直接変換する方式
    • 10.3 変位-光-電気変換方式
  • 11章 流体式測定機器
    • 11.1 原理
    • 11.2 空気マイクロメータの種類
    • 11.3 理論解析のための回路の名称と記号
    • 11.4 低圧背圧式空気マイクロメータ
    • 11.5 流量式空気マイクロメータ
    • 11.6 高圧背圧式空気マイクロメータ
    • 11.7 空気マイクロメータの利用法
    • 11.8 電気信号への変換
  • 12章 測定のディジタル化
    • 12.1 はじめに
    • 12.2 アナログ-ディジタル変換(AD変換)
    • 12.3 ディジタル形測定システム
    • 12.4 直線変位-光-電気信号変換方式
    • 12.5 光学縞計数法
    • 12.6 インダクタンス式スケール
  • 13章 角度の測定
    • 13.1 はじめに
    • 13.2 端面基準
    • 13.3 目盛基準
  • 14章 内径測定
    • 14.1 はじめに
    • 14.2 内径測定の原則
    • 14.3 内径の検出方式
    • 14.4 検出部の構造
    • 14.5 円筒形状(ピンゲージ)式
    • 14.6 内径測定の基準
  • 15章 機械加工中の精密測定
    • 15.1 はじめに
    • 15.2 インプロセスゲージングの概要
    • 15.3 インアンドポストプロセスゲージング・システム
    • 15.4 アダプティコントロール・システム
  • 16章 表面粗さ
    • 16.1 はじめに
    • 16.2 粗さ曲線の定義
    • 16.3 粗さ曲線のパラメータ
    • 16.4 表面粗さの測定法
  • 17章 ねじの測定
    • 17.1 測定諸元
    • 17.2 ねじの検査と限界ゲージの精度管理
    • 17.3 ねじの諸元の測定
  • 18章 歯車の測定
    • 18.1 はじめに
    • 18.2 歯車の歯形曲線
    • 18.3 歯車の基礎的諸元
    • 18.4 歯車の計算に必要な基本諸元
    • 18.5 歯厚の測定
  • 19章 形状の測定
    • 19.1 はじめに
    • 19.2 幾何偏差の特性(幾何特性)の定義
    • 19.3 真円度の測定
    • 19.4 三点式真円度測定法
    • 19.5 最小自乗中心法
  • 20章 三次元座標測定機
    • 20.1 はじめに
    • 20.2 三次元座標測定機の概要
    • 20.3 データ処理システム
    • 20.4 三次元座標測定機の精度
    • 20.5 アッベの原理
  • 21章 光波の干渉じまを利用した計測方式
    • 21.1 光波干渉の原理
    • 21.2 光波干渉の原理を利用した長さの測定
    • 21.3 光波干渉計に採用されている光源
    • 21.4 光波干渉を応用した形状測定
  • 22章 精密測定室の標準状態
    • 22.1 はじめに
    • 22.2 標準状態
    • 22.3 標準状態の許容差
    • 22.4 三次元測定機の試験環境条件