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目次

ディペンダブルシステム 高信頼システム実現のための耐故障・検証・テスト技術

ディペンダブルシステム 高信頼システム実現のための耐故障・検証・テスト技術

  • 米田 友洋(著)/ 梶原 誠司(著)/ 土屋 達弘(著)
  • 第1章 基礎概念
    • 1.1 ディペンダブルなシステムとは
    • 1.2 用語
    • 1.3 評価尺度
  • 第2章 誤り検出とマスクによる耐故障化技術
    • 2.1 静的マスク
    • 2.2 動的マスク
    • 2.3 フェイルセイフ
  • 第3章 分散システムのフォールトトレランス
    • 3.1 分散システムのモデル
    • 3.2 合意問題
    • 3.3 非同期システムにおける合意
    • 3.4 原子動作
    • 3.5 プロセス多重化
    • 3.6 データ多重化
    • 3.7 分散チェックポインティング
  • 第4章 形式的設計検証技術
    • 4.1 基本概念
    • 4.2 CTLモデル検査
    • 4.3 LTLモデル検査
    • 4.4 定理証明法に基づく形式的検証
  • 第5章 テスト技術
    • 5.1 テストとは
    • 5.2 故障モデル
    • 5.3 テストパターン生成
    • 5.4 スキャン設計
    • 5.5 組込み自己テスト
    • 5.6 超微細・高速LSIのテスト

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