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目次

  • 1 光と電波
    • 1.1 光の周波数と波長
    • 1.2 光波の電波の違い
    • 1.3 光波の表現
    • 1.4 マクスウェルの方程式
    • 1.5 平面波
    • 1.6 偏光
    • 1.7 一般媒質中の平面波
    • 1.8 ガウスビーム
    • 1.9 応用例
  • 2 反射と屈折
    • 2.1 反射・屈折の境界条件
    • 2.2 金属(完全導体)による反射
    • 2.3 誘電体の反射と屈折
    • 2.4 全反射
    • 2.5 薄膜コーティング
  • 3 光線の光学
    • 3.1 はじめに
    • 3.2 球面の屈折による結像
    • 3.3 薄いレンズによる結像
    • 3.4 厚いレンズによる結像
    • 3.5 像形成のための光線と倍率
    • 3.6 球面反射鏡による結像
    • 3.7 光線伝搬のマトリックス表示
    • 3.8 光線の微分方程式
    • 3.9 組合せレンズと非球面レンズ
  • 4 光の回折
    • 4.1 回折現象とその表現
    • 4.2 フレネル回折とフラウンホーファー回折
    • 4.3 レンズによるフラウンホーファー回折の観測
    • 4.4 方形開口と円形開口のフラウンホーファー回折
    • 4.5 スリットによるフレネル回折
    • 4.6 光エンコーダ
    • 4.7 回折光学素子
    • 4.8 近接場光学顕微鏡
  • 5 干渉
    • 5.1 二光束干渉
    • 5.2 干渉縞
    • 5.3 干渉によるビート
    • 5.4 空間の干渉縞と定在波
    • 5.5 繰返し反射による干渉
    • 5.6 スペックル
    • 5.7 コヒーレンス
    • 5.8 代表的な干渉計
    • 5.9 位相シフト干渉計
    • 5.10 レーザ測長器
    • 5.11 光ジャイロ
    • 5.12 ホログラフィー
  • 6 光導波路
    • 6.1 光を閉じこめて伝送する
    • 6.2 光ファイバの基本構造と光の伝搬
    • 6.3 光導波路におけるモード
    • 6.4 光ファイバ通信
    • 6.5 光ファイバを用いた計測
    • 6.6 基板上の光導波路
  • 7 フーリエ光学
    • 7.1 画像の周波数成分
    • 7.2 光学系の伝達関数
  • 8 レーザの基礎
    • 8.1 光増幅器と発振器
    • 8.2 誘導放出
    • 8.3 共振器
    • 8.4 レーザ発振
    • 8.5 発光ダイオード
    • 8.6 半導体レーザ
  • 9 光検出器
    • 9.1 ホトダイオード
    • 9.2 光電子増倍管
    • 9.3 CCDイメージセンサ
    • 9.4 半導体位置検出センサと応用
  • 10 マイクロ光学と光マイクロマシン
    • 10.1 ホトリソグラフィーと光マイクロマシン
    • 10.2 シリコンのマイクロマシニングとミラーデバイス
    • 10.3 表面マイクロマシニングと可変デバイス