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目次

  • 1 散乱・回折の基礎
    • 1.1 散乱と回折を表記する基本パラメータ
    • 1.2 X線,電子線,中性子線
  • 2 X線の発生と検出
    • 2.1 X線の発生法
    • 2.2 X線検出器
  • 3 単結晶によるX線回折
    • 3.1 構造解析をどのように進めるか
    • 3.2 結晶試料の作製
    • 3.3 回折装置
    • 3.4 特殊条件下での単結晶構造解析
    • 3.5 構造の決定
    • 3.6 結晶構造の精密化
    • 3.7 結果の評価とまとめ方
    • 3.8 データベースの利用
  • 4 粉末回折
    • 4.1 はじめに
    • 4.2 粉末X線回折装置
    • 4.3 回折強度の精密測定
    • 4.4 リートベルト法
    • 4.5 パターン分解
    • 4.6 最大エントロピー法による電子・原子核密度の決定
    • 4.7 非経験的構造解析
  • 5 生体高分子の結晶構造
    • 5.1 構造解析をどのように進めるか
    • 5.2 結晶化とX線回折実験
    • 5.3 構造解析(位相決定)法
    • 5.4 分子モデルの構築
    • 5.5 結晶構造の精密化
    • 5.6 構造の解釈
  • 6 非晶質の構造
    • 6.1 液体・溶液からの散乱と動径分布関数
    • 6.2 X線異常散乱
  • 7 メゾスケールの構造(小角散乱)
    • 7.1 X線小角散乱装置
    • 7.2 小角散乱の一般論
    • 7.3 高分子,コロイド,ミセルへの応用
    • 7.4 生体高分子のX線回折-円筒対称パターソン関数-
    • 7.5 ゆらぎと小角散乱
  • 8 中性子散乱
    • 8.1 中性子の発生と性質
    • 8.2 単結晶中性子回折による結晶構造解析
    • 8.3 磁気構造の決定
  • 9 表面・薄膜構造
    • 9.1 電子回折
    • 9.2 電子顕微鏡
  • 10 特殊実験
    • 10.1 微小結晶構造解析
    • 10.2 表面X線回折