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目次

残留応力のX線評価 基礎と応用

残留応力のX線評価 基礎と応用

  • 田中 啓介(共著)/ 鈴木 賢治(共著)/ 秋庭 義明(共著)
  • 第Ⅰ部 残留応力の基礎
    • 第1章 応力とひずみ
    • 第2章 残留応力の発生・評価・制御
    • 第3章 残留応力と強度評価
  • 第Ⅱ部 X線応力測定の基礎
    • 第4章 結晶材料
    • 第5章 X線と回折
    • 第6章 多結晶のX線応力測定
    • 第7章 X線応力測定の実際
  • 第Ⅲ部 X線応力測定法の応用
    • 第8章 シンクロトロン放射光による応力測定
    • 第9章 中性子回折による応力測定
    • 第10章 多相材料・複合材料の応力評価
    • 第11章 表面改質・コーティングの応力評価
    • 第12章 薄膜の応力評価
    • 第13章 接合・溶接材の残留応力評価
  • 第Ⅳ部 結晶弾性のマイクロメカニックス
    • 第14章 単結晶の弾性変形
    • 第15章 単結晶のX線応力測定
    • 第16章 多結晶・多相材料の回折弾性定数
    • 第17章 繊維配向を有する立方晶多結晶薄膜のX線応力測定
    • 付録A cosα法による多結晶のX線応力測定
    • 付録B 表面除去による残留応力分布の補正
    • 付録C 圧電セラミックスのひずみ測定
    • 付録D ReussモデルおよびVoigtモデルによる多結晶の弾性定数の導出
    • 付録E マイクロメカニックスによる多結晶・多相材料の弾性定数の導出

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