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目次

  • 1 総論
    • 1.1 固体表面基板
    • 1.2 単結晶表面の指定
    • 1.3 単結晶面上の超周期構造
    • 1.4 多結晶表面,アモルファス物質の表面
    • 1.5 実用的な基板表面
  • 2 試料調製法
    • 2.1 表面試料の作製法
    • 2.2 表面の清浄化
    • 2.3 吸着表面
    • 2.4 吸着表面(ガス吸着の制御)
    • 2.5 めっき法による薄膜作製法
    • 2.6 電解重合有機薄膜
    • 2.7 コロイド粒子
  • 3 表面測定法および構造解析法
    • 3.1 オージェ電子分光
    • 3.2 光電子分光
    • 3.3 X線光電子分光と光電子回折
    • 3.4 電子顕微鏡(TEM,REM,LEEM,SEM,PEEM)
    • 3.5 放射光,XAS,XES
    • 3.6 HREELSとFTIRによる表面振動測定
    • 3.7 レーザー非線形分光
    • 3.8 反射高速電子線回折(RHEED)
    • 3.9 低速電子線回折(LEED)
    • 3.10 昇温脱離法
    • 3.11 FEM,FIM,アトムプローブ
    • 3.12 イオンビームによる表面観察
    • 3.13 超高真空低温走査トンネル顕微鏡:STMによる分子の研究の発展
    • 3.14 電気化学STMを用いた溶液中での有機分子の観察
    • 3.15 原子間力顕微鏡(AFM)
    • 3.16 生体試料の原子間力顕微鏡測定
    • 3.17 溶液中の分光法
    • 3.18 表面張力,接触角,表面力測定
  • 4 表面プロセスの観測
    • 4.1 吸着・脱離・化学反応のキネティックス
    • 4.2 分子線散乱
    • 4.3 表面化学反応の動的観測
    • 4.4 薄膜成長の観測
    • 4.5 電気化学的測定
    • 4.6 電極表面系のインピーダンス測定法