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目次

走査プローブ顕微鏡 正しい実験とデータ解析のために必要なこと

走査プローブ顕微鏡 正しい実験とデータ解析のために必要なこと (実験物理科学シリーズ)

  • 重川 秀実(責任編集)/ 吉村 雅満(責任編集)/ 河津 璋(責任編集)/ 近角 聰信(企画編集)/ 三浦 登(企画編集)/ 永嶺 謙忠(企画編集)/ 榊 裕之(企画編集)/ 北澤 宏一(企画編集)
  • 基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に
  • Ⅰ.プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいこと
  • 第1章 回路を理解するための基礎
    • 1.1 制御の基礎
    • 1.2 エレクトロニクス
    • 文献
  • 第2章 信号を取り出すための基礎
    • 2.1 信号測定の基礎
    • 2.2 雑音の基礎
    • 2.3 微小信号・ロックイン計測
    • 文献
  • 第3章 振動を扱うための基礎
    • 3.1 振動の運動方程式
    • 3.2 カンチレバーにおける共振曲線
    • 文献
  • 基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に
  • Ⅱ.プローブ顕微鏡の基礎
  • 第1章 プローブ顕微鏡の仕組み
    • 1.1 プローブ顕微鏡の動作原理
    • 1.2 探針(または試料)位置の制御
    • 1.3 除振について
    • 文献
  • 第2章 プローブ顕微鏡のファミリー
    • 2.1 各種プローブで得られる情報と分解能
    • 2.2 同じプローブでも−測定方法による違い−
    • 文献
  • 第3章 スペクトル測定の原理と留意点
    • 3.1 トンネル分光
    • 3.2 力の分光
    • 文献
  • 第4章 周辺技術
    • 4.1 真空の作り方と測り方
    • 4.2 温度可変観察
    • 4.3 薬品を扱うために
    • 4.4 その他の技術
    • 文献
  • 実践編 プローブ顕微鏡の使い方
  • 第1章 探針の作製と評価
    • 1.1 はじめに
    • 1.2 探針の種類
    • 1.3 アーティファクト
    • 1.4 探針先端の評価
    • 1.5 カーボンナノチューブ探針
    • 文献
  • 第2章 試料の作り方・扱い方
    • 2.1 金属酸化物試料の扱い
    • 2.2 平坦な金属基板の作製
    • 2.3 有機分子試料測定のために
    • 2.4 自己組織化膜の作り方
    • 2.5 バイオ試料の扱い
    • 文献
  • 第3章 信号の取り方
    • 3.1 測定に必要なパラメータ
    • 3.2 測定条件と参照信号値の選択
    • 3.3 変調測定:変調の種類と得られるデータ
    • 3.4 外部同期を使うとできること
    • 文献
  • 第4章 データ解析の方法
    • 4.1 はじめに
    • 4.2 SPMデータの歪み
    • 4.3 雑音の低減
    • 4.4 明るさ軸の調整
    • 4.5 物理量を引き出すために
    • 4.6 その他の解析手法
    • 文献
  • 第5章 SPMの理論シミュレーション法とその応用
    • 5.1 はじめに
    • 5.2 STMシミュレーション法の原理
    • 5.3 非接触AFMシミュレーション法の原理
    • 5.4 液中AFM法の原理
    • 5.5 タンパク質AFMシミュレーション
    • 5.6 探針の設計と解析
    • 5.7 おわりに
    • 文献
  • 発展編 よりレベルの高い使い方をするための先端技術
  • 第1章 溶液中の計測
    • 1.1 電気化学STM
    • 1.2 溶液環境におけるAFM測定
    • 文献
  • 第2章 生体材料計測
    • 2.1 生体材料のプローブ顕微鏡計測でわかること
    • 2.2 AFM・高速測定
    • 文献
  • 第3章 高分子の弾性計測
    • 3.1 はじめに
    • 3.2 ヘルツ接触
    • 3.3 JKR接触
    • 3.4 おわりに
    • 文献
  • 第4章 デバイス特性評価への応用
    • 4.1 はじめに
    • 4.2 不純物分布の観察
    • 4.3 半導体試料内の電位分布の観察
    • 4.4 電流フローの観測
    • 4.5 おわりに
    • 文献
  • 第5章 化学反応を観る
    • 5.1 はじめに
    • 5.2 STMを用いた実験方法
    • 5.3 おわりに
    • 文献
  • 第6章 相転移を観る
    • 6.1 はじめに
    • 6.2 低温測定
    • 6.3 おわりに
    • 文献
  • 第7章 スピンを測る
    • 7.1 はじめに
    • 7.2 SP−STMでスピンを見るための実験技術
    • 7.3 交換相互作用力顕微鏡
    • おわりに
    • 文献
  • 第8章 微細加工とSPM
    • 8.1 はじめに
    • 8.2 SPMによる加工法
    • 8.3 SPM用カンチレバーに関連した加工法
    • 8.4 おわりに
    • 文献
  • 第9章 ステップインモード計測
    • 9.1 はじめに
    • 9.2 AFM計測の課題
    • 9.3 動作原理
    • 9.4 測定例
    • 9.5 おわりに
    • 文献
  • 第10章 非接触AFMの展開
    • 10.1 はじめに
    • 10.2 探針−試料間の相互作用の解析の試み
    • 10.3 印加電圧に依存する相互作用力の考察
    • 10.4 おわりに
    • 文献
  • 第11章 光技術との融合
    • 11.1 NSOMの展開
    • 11.2 STM発光分光
    • 11.3 光STM
    • 文献
  • 第12章 走査型アトムプローブ
    • 12.1 はじめに
    • 12.2 原理と構造
    • 12.3 分析例
    • 12.4 他の分析器との比較
    • 12.5 おわりに
    • 文献
  • 第13章 マルチプローブ計測
    • 13.1 はじめに
    • 13.2 4探針STM装置の概要
    • 13.3 4探針STMでの技術的課題
    • 13.4 温度可変4探針STM装置
    • 13.5 おわりに
    • 文献
  • 第14章 原子・分子操作
    • 14.1 はじめに
    • 14.2 固体電解質探針と原子スイッチ
    • 14.3 STM誘起連鎖重合反応
    • 14.4 おわりに
    • 文献

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