サイト内検索

詳細検索

ヘルプ

セーフサーチについて

性的・暴力的に過激な表現が含まれる作品の表示を調整できる機能です。
ご利用当初は「セーフサーチ」が「ON」に設定されており、性的・暴力的に過激な表現が含まれる作品の表示が制限されています。
全ての作品を表示するためには「OFF」にしてご覧ください。
※セーフサーチを「OFF」にすると、アダルト認証ページで「はい」を選択した状態になります。
※セーフサーチを「OFF」から「ON」に戻すと、次ページの表示もしくはページ更新後に認証が入ります。

送料無料 日付更新(2017年7月)

【ネットストア】カレンダー全品ポイント5倍キャンペーン(~10/31)

目次

電子線ナノイメージング 高分解能TEMとSTEMによる可視化

電子線ナノイメージング 高分解能TEMとSTEMによる可視化 (材料学シリーズ)

  • 田中 信夫(著)/ 堂山 昌男(監修)/ 小川 恵一(監修)/ 北田 正弘(監修)
  • 第Ⅰ部 ナノの世界と透過電子顕微鏡法
    • 第1章 ナノの世界を見る
    • 第2章 透過電子顕微鏡の構造と結像
    • 第3章 透過電子顕微鏡の分解能と像コントラスト
    • 第4章 高分解能TEM観察法とは何か
    • 第5章 結晶格子像と結晶構造像
    • 第6章 高分解能電子顕微鏡像の結像理論と像シミュレーション
    • 第7章 先進透過電子顕微鏡法
  • 第Ⅱ部 原子直視を可能とする走査透過電子顕微鏡法
    • 第8章 走査透過電子顕微鏡法とは何か
    • 第9章 走査透過電子顕微鏡の結像
    • 第10章 走査透過電子顕微鏡法の応用例
    • 第11章 走査透過電子顕微鏡の結像理論
    • 第12章 走査透過電子顕微鏡法の今後の発展
    • 第13章 まとめとして−ナノ構造観察からナノ物性研究およびナノ加工研究へ−
  • 補遺