目次
半導体デバイス工学 (OHM大学テキスト)
- 大村 泰久(編著)
- 1章 半導体結晶とエネルギー帯構造
- 1・1 半導体結晶
- 1・2 半導体のエネルギー帯構造とキャリヤの発生
- 1・3 真性キャリヤ濃度
- 1・4 ドーピング
- 演習問題
- 2章 半導体のキャリヤと電気伝導
- 2・1 半導体中のキャリヤの運動
- 2・2 キャリヤの拡散とドリフト
- 2・3 キャリヤの生成と消滅
- 2・4 半導体中の電気伝導を記述する基本方程式
- 演習問題
- 3章 pn接合の電流−電圧特性と接合容量
- 3・1 pn接合の概要
- 3・2 pn接合のエネルギー帯構造
- 3・3 pn接合の直流特性
- 3・4 pn接合の容量特性
- 演習問題
- 4章 金属と半導体の接合
- 4・1 仕事関数
- 4・2 ショットキー接合
- 4・3 オーミック接合
- 演習問題
- 5章 バイポーラトランジスタの動作原理
- 5・1 デバイス構造
- 5・2 動作原理
- 5・3 動作パラメータ
- 5・4 バイポーラトランジスタ回路
- 演習問題
- 6章 金属−絶縁体−半導体(MIS)構造
- 6・1 理想的なMOS構造における界面電荷応答の原理
- 6・2 理想的なMOS構造における電気容量特性
- 演習問題
- 7章 MOSFETの動作原理
- 7・1 MOSFETの動作と特徴−オン状態−
- 7・2 MOSFETの動作と特徴−オフ状態−
- 演習問題
- 8章 MOSFETの微細化の歴史と集積回路の発展
- 8・1 MOSFETの微細化の目的とスケーリングの考え方
- 8・2 高電界現象とホット・キャリヤによる特性劣化
- 演習問題
- 9章 化合物半導体デバイス
- 9・1 化合物半導体の利用
- 9・2 MESFET
- 9・3 高電子移動度トランジスタ
- 9・4 その他の化合物半導体デバイス
- 演習問題
- 10章 薄膜トランジスタ
- 10・1 デバイス構造
- 10・2 動作原理
- 10・3 材料と作製方法
- 演習問題
- 11章 半導体の光学特性
- 11・1 半導体と光の相互作用
- 11・2 半導体の光吸収
- 11・3 励起子による光吸収
- 11・4 光導電性
- 11・5 半導体の発光
- 11・6 半導体量子井戸構造
- 演習問題
- 12章 受光デバイス
- 12・1 光のエネルギー
- 12・2 固体撮像素子
- 12・3 太陽電池
- 演習問題
- 13章 発光デバイス
- 13・1 直接遷移と間接遷移
- 13・2 放出と吸収
- 13・3 発光ダイオード
- 13・4 半導体レーザ
- 演習問題
- 14章 電力制御半導体デバイス
- 14・1 パワーデバイスとその特徴
- 14・2 pinダイオード
- 14・3 パワーMOSFET
- 14・4 IGBT
- 14・5 ワイド・バンドギャップ・パワーデバイス
- 演習問題
- 15章 これからの半導体デバイス
- 15・1 集積回路の課題と解決に向けた動向
- 15・2 新しい材料,動作原理を用いたデバイス
- 15・3 半導体デバイスの今後の発展
- 演習問題
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