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目次

X線結晶構造解析入門 強度測定からCIF投稿まで

X線結晶構造解析入門 強度測定からCIF投稿まで

  • 大場 茂(著)/ 植草 秀裕(著)
  • 1章 X線回折法の原理
    • 1.1 特性X線
    • 1.2 原子によるX線の吸収
    • 1.3 原子によるX線の散乱
    • 1.4 結晶によるX線の回折
    • 1.5 X線構造解析の基本式
    • 1.6 X線回折強度の補正
  • 2章 結晶構造の対称性
    • 2.1 対称要素と空間格子
    • 2.2 空間群
    • 2.3 単位格子の取り方
    • 2.4 軸変換
    • 2.5 点群とラウエ群
    • 2.6 消滅則
  • 3章 構造モデルの導出および精密化
    • 3.1 反射データの平均
    • 3.2 位相問題
    • 3.3 最小二乗法
    • 3.4 回折強度への特殊な影響
    • 3.5 絶対構造の判定
    • 3.6 解析結果の解釈
  • 4章 単結晶育成と測定の用意
    • 4.1 X線測定用結晶の条件
    • 4.2 結晶育成方法
    • 4.3 結晶外形を決める要因
    • 4.4 X線測定用結晶の用意
    • 4.5 双晶
  • 5章 X線回折強度の測定
    • 5.1 X線強度測定に使用する装置
    • 5.2 測定の原理
    • 5.3 予備測定
    • 5.4 X線強度データの収集と積分の計算
  • 6章 構造解析の実際の流れ
    • 6.1 初期構造モデルの導出
    • 6.2 構造の精密化
    • 6.3 乱れの解析
    • 6.4 極性構造の原点の指定
  • 7章 構造解析の落とし穴
    • 7.1 空間群間違い
    • 7.2 元素の間違い
    • 7.3 水素原子の導入
    • 7.4 構造の乱れ
    • 7.5 フラック変数の解釈
    • 7.6 二面角の定義
  • 8章 CIF
    • 8.1 概要
    • 8.2 データ入力形式
    • 8.3 検査および警告への対処
    • 8.4 警告への対策
  • 9章 トラブルシューティング
    • 9.1 X線測定用の結晶ができない
    • 9.2 X線データの積分の計算がうまくいかない
    • 9.3 構造が解けない
    • 9.4 解析の仕方がわからない
    • 9.5 解析結果をどう解釈したらいいか
    • 9.6 表記の仕方がわからない
  • 10章 SHELXの使い方
    • 10.1 概要
    • 10.2 水素原子の導入
    • 10.3 乱れた構造の解析
    • 10.4 双晶の解析

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