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目次

  • 第1章 直接観察法と間接法による結晶解析
    • 1.1 透過型電子顕微法(Transmission Electron Microscopy)
    • 1.2 電界イオン顕微法(Field Ion Microscopy)
    • 1.3 走査トンネル顕微法(Scanning Tunneling Microscopy)
  • 第2章 結晶学入門
    • 2.1 結晶の次元性と分類
    • 2.2 結晶系(晶系)
    • 2.3 結晶方位と面指数
    • 2.4 面間隔
    • 2.5 Wulff(ウルフ)網を用いた投影
    • 2.6 対称操作と並進対称性の共存
    • 2.7 Bravais(ブラベ)ファミリーと逆格子点
    • 2.8 実格子と逆格子
    • 2.9 逆格子の広がりとLaue(ラウエ)関数
    • 2.10 回折現象と逆格子
    • 2.11 Ewald(エワルト)球と限界球
    • 2.12 らせん軸と映進
    • 2.13 空間群
  • 第3章 回折現象
    • 3.1 原子による散乱
    • 3.2 トムソン散乱
    • 3.3 原子散乱因子
    • 3.4 異常分散効果
    • 3.5 中性子回折
    • 3.6 幾何学因子,Lorentz因子
    • 3.7 吸収補正
    • 3.8 温度因子
    • 3.9 X線の発生
    • 3.10 シンクロトロン放射光
    • 3.11 特性X線
    • 3.12 フィルター
    • 3.13 モノクロメータ
    • 3.14 粉末回折法を用いた自動結晶解析
    • 3.15 JCPDSデータシステム
    • 3.16 回折ピーク位置から晶系と消滅則を決定する
    • 3.17 Rietveld法による解析
    • 3.18 最小二乗法
    • 3.19 R因子など