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目次

X線・中性子による構造解析

X線・中性子による構造解析

  • 大橋 裕二(編著)/ 植草 秀裕(ほか著)
  • 第1章 結晶の周期性とX線
    • 1・1 近代結晶学の誕生
    • 1・2 X線の発見と回折現象
    • 1・3 回折と干渉
    • 1・4 ラウエの発見−X線の正体と結晶の周期性
    • 1・5 ブラッグの実験−NaClの結晶構造
    • 1・6 X線の性質
    • 1・7 新しいX線の誕生−放射光
  • 第2章 結晶とその対称性
    • 2・1 対称の要素−回転軸と回反軸
    • 2・2 対称要素の組合わせと点群
    • 2・3 結晶格子と格子点
    • 2・4 七つの晶系
    • 2・5 14の空間格子(ブラベ格子)
    • 2・6 結晶面
    • 2・7 晶帯と晶帯軸
    • 2・8 点空間群−点群と空間格子の組合わせ
    • 2・9 周期構造の対称
    • 2・10 230の空間群
    • 2・11 空間群の表現とその実例−空間群P21/cの例
  • 第3章 X線の回折と電子密度
    • 3・1 電磁波の性質とその表現
    • 3・2 波の回折と干渉
    • 3・3 1個の電子によるX線の散乱
    • 3・4 n個の電子による散乱波の干渉
    • 3・5 原子によるX線の散乱
    • 3・6 分子によるX線の散乱
    • 3・7 単位胞からの散乱
    • 3・8 結晶からの散乱
    • 3・9 ブラッグの結晶面からの反射の考え方
    • 3・10 ラウエ法とブラッグ法
    • 3・11 逆格子の考え方
    • 3・12 逆格子と実格子の関係
    • 3・13 ブラッグの条件
    • 3・14 回折の条件−エワルドの回折球
    • 3・15 フーリエ変換と電子密度
  • 第4章 回折強度の対称性と消滅則:空間群の判定
    • 4・1 フリーデル則
    • 4・2 ラウエ対称
    • 4・3 空間格子(ブラベ格子)の判定
    • 4・4 らせん軸と映進面の判定
    • 4・5 対称心の有無の判定
    • 4・6 空間群の判定
    • 4・7 間違いやすい空間群の判定
  • 第5章 回折強度と構造因子
    • 5・1 温度因子
    • 5・2 ウィルソン統計と尺度因子
    • 5・3 異方性熱振動
    • 5・4 多重度と占有率
    • 5・5 積分強度
    • 5・6 消衰効果
    • 5・7 二重散乱(レニンガー効果)
    • 5・8 熱散漫散乱
    • 5・9 長周期構造
    • 5・10 異常散乱と絶対構造
  • 第6章 構造因子の位相の決定
    • 6・1 直接法
    • 6・2 パターソン法
    • 6・3 同形置換法
    • 6・4 多波長異常散乱法
    • 6・5 デュアルスペース法
  • 第7章 構造の精密化
    • 7・1 精密化の前提条件
    • 7・2 最小二乗法による精密化
    • 7・3 精密化に関する用語
  • 第8章 実際の構造解析:解析ソフトウェアの取扱いとCIFファイル
    • 8・1 データ測定とデータ処理
    • 8・2 初期構造の決定
    • 8・3 構造の精密化Ⅰ−分子骨格の決定
    • 8・4 構造の精密化Ⅱ−熱振動の解析
    • 8・5 構造の精密化Ⅲ−水素原子の座標決定
    • 8・6 束縛条件をつけた精密化
    • 8・7 乱れた構造の解析
    • 8・8 解析結果のチェック
    • 8・9 解析結果のCIFファイルへの出力
  • 第9章 解析結果の整理
    • 9・1 結晶構造解析結果に必要な情報
    • 9・2 構造解析結果の解釈
  • 第10章 中性子構造解析
    • 10・1 中性子の特徴
    • 10・2 中性子の発生
    • 10・3 中性子回折装置
    • 10・4 中性子構造解析による構造決定
    • 10・5 単結晶中性子構造解析を用いた研究例
    • 10・6 中性子回折測定を行う前に
  • 第11章 粉末構造解析
    • 11・1 粉末構造解析の発展
    • 11・2 粉末構造解析が必要な理由
    • 11・3 粉末結晶からのX線回折像とその特徴
    • 11・4 粉末未知構造解析の手順
    • 11・5 解析の実例
    • 11・6 代表的なソフトウェア
  • 第12章 薄膜の構造解析
    • 12・1 有機薄膜デバイスと薄膜構造解析
    • 12・2 微小角入射X線回折法
    • 12・3 微小角入射小角X線散乱法
    • 12・4 X線反射率法