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収録作品一覧

作品 著者 ページ
高分解能TEM観察法 田中信夫 著 1-6
高分解能STEM解析 及川哲夫 ほか著 7-12
磁気組織・構造観察(ローレンツ顕微鏡法,電子線ホログラフィ) 丹司敬義 著 13-19
半導体・デバイスの欠陥解析 上野武夫 著 20-26
EBSP法による方位組織解析 池田賢一 著 27-31
低エネルギーSEMによる表面・微細組織観察 佐藤馨 ほか著 32-36
共焦点走査型レーザ顕微鏡を用いた材料の高温プロセスの直接観察 柴田浩幸 著 37-40
走査プローブ顕微鏡による金属組織の観察 早川正夫 著 41-46
走査イオン顕微鏡を活用したその場観察手法 重里元一 ほか著 47-54
鉄鋼の相変態組織における格子欠陥の透過型電子顕微鏡観察 古原忠 著 55-61
マグネシウム合金の透過電子顕微鏡組織 池野進 ほか著 62-66
セラミックス組織観察(TEM) 幾原雄一 著 67-73
球状黒鉛鋳鉄の黒鉛微視構造 五十嵐芳夫 著 74-81
化合物半導体の欠陥組織観察 桑野範之 著 82-87
鉛フリーはんだ付け界面の反応と組織 菅沼克昭 著 88-96
応用写真論文   97-249
材料薄膜化のための化学・電気化学的手法 小林千悟 ほか著 268-272