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“二川清”の紙の本一覧

1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院修士課程修了。工学博士。デバイス評価技術研究所代表。信頼性技術功労賞ほか受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。

“二川清”に関連する紙の本を10件掲載しています。1 ～ 10 件目をご紹介します。

税込価格：2,640円
出版社：森北出版
取扱開始日：2012/08/31
発送可能日：1～3日
半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路（ＩＣ）を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。〔初版：工業調査会２０００年刊〕【「TRC MARC」の商品解説】

税込価格：3,630円
出版社：日科技連出版社
発売日：2020/08/21
発送可能日：1～3日
信頼性七つ道具の適用方法について、各手法ごとに詳しく解説。さらに、それぞれの手法をどのように組み合わせて活用しているか、事例を通して説明する。「初級信頼性技術者」資格認定試験を意識した演習問題やコラムも収録。【「TRC MARC」の商品解説】

　本書は、『信頼性七つ道具R7』の続編である。信頼性技術全般の最新の話題や、前書を補う内容を提供している。
　信頼性七つ道具(R...

税込価格：3,630円
出版社：日科技連出版社
発売日：2019/12/19
発送可能日：1～3日
半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような５択の演習問題も掲載。【「TRC MARC」の商品解説】

　本書が対象とする半導体デバイス（以下デバイス）はシリコン集積回路（LSI）、パワーデバイス、化合物半導体発光デバイス、です。対象とする不具合...

税込価格：3,740円
出版社：日科技連出版社
発行年月：２０１１．９
発送可能日：1～3日
ＬＳＩの故障解析技術に焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。２００７年以降の技術の変化に対応。〔初版のタイトル等：ＬＳＩ故障解析技術のすべて（工業調査会２００７年刊）〕【「TRC MARC」の商品解説】

税込価格：3,300円
出版社：日科技連出版社
発行年月：２０１０．１０
発送可能日：要確認
家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているＬＳＩの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。【「TRC MARC」の商品解説】

税込価格：3,740円
出版社：日科技連出版社
発行年月：２００９．１２
発送可能日：1～3日
信頼性管理から信頼性技術まで、信頼性全般をカバーした問題集。問題の出題範囲や出題形式は「初級信頼性技術者資格認定試験」に準拠し、入門書としても利用できるように構成。コピーして使える解答用紙付き。【「TRC MARC」の商品解説】

税込価格：3,080円
出版社：日科技連出版社
発行年月：２００８．１０
発送可能日：1～3日
故障解析は、信頼性の作り込みにも、起きてしまった故障・事故の再発防止にも重要な役割を担っている。故障解析の基本的な考え方や、様々な故障解析技術が実務でどのように用いられているのかを、豊富な事例により詳しく解説。【「TRC MARC」の商品解説】

税込価格：2,640円
出版社：工業調査会
発行年月：２００７．１１
発送可能日：要確認
ＬＳＩの故障解析技術そのものに焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。【「TRC MARC」の商品解説】

税込価格：1,980円
出版社：日科技連出版社
発行年月：１９９２．９
発送可能日：要確認
新しくデバイス・部品の信頼性業務に携わることになった人のために、実際の業務でよく遭遇する問題について、初心者が陥りやすい罠や気付きにくい解決の秘訣を取り上げＱ＆Ａの形で解説する「困ったときに開くノウハウ集」。【「TRC MARC」の商品解説】

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